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本研究说明了结合电子探针、电子显微镜扫描电镜(FEG-SEM)和原子力显微镜(C-AFM)等表征方法在亚微米和纳米尺度上描述碳化缺氧环境下铁的腐蚀产物层的价值。用于检测腐蚀产物的晶型，并用FESEM记录腐蚀产物的分布。用C-AFM对腐蚀产物层的电学性能进行了表征。CPL中确定的主要相是由碳酸亚铁(菱铁矿，或菱铁矿和楚卡诺维特石的混合物)组成的，并且是绝缘的。CPL的导电特性是由位于TM/CPL界面或CPL内部与金属连接的磁铁矿或铁硫化物诱导的。这可能表明，金属铁阳极溶解产生的电子可以通过与金属局部连接的磁铁矿带的纳米三维网络传导到CPL的外部部分，并通过碳酸亚铁基质。关于CPL电子性质的数据将通过x射线断层扫描实验来扩展，以获得纳米尺度上CPL内部孔隙网络的信息，并确定磁铁矿和硫化物在CPL整个体积中的分布。